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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度分析
    BSD-PSBET比表面及孔隙度分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔隙度分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度分析儀
    BSD-PSBET比表面及孔隙度分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔隙度分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PBET比表面及孔徑檢測(cè)
    BSD-PBET比表面及孔徑檢測(cè)

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-P

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    BET比表面及孔徑檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔徑檢測(cè)儀
    BSD-PSBET比表面及孔徑檢測(cè)儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔徑檢測(cè)儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)量
    BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)量

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔徑測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)量?jī)x
    BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)量?jī)x

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔徑測(cè)量?jī)x,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PBET比表面及孔徑測(cè)定
    BSD-PBET比表面及孔徑測(cè)定

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    型號(hào):BSD-P

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    BET比表面及孔徑測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)定儀
    BSD-PSBET比表面及孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

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    BET比表面及孔徑測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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